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Garanzia di qualità

Test di parte di IC-Components Include

Ispezione visiva HD
Test di aspetto ad alta definizione tra cui serigrafia, codifica, alta definizione per rilevare sfere di saldatura, in grado di rilevare se parti ossidate e originali.
Test delle funzioni finali
Durante un test funzionale, i comparatori funzionali confrontano il livello di tensione dei segnali di uscita dal DUT con i livelli di riferimento VOL e VOH. A uno strobo di uscita viene assegnato un valore di temporizzazione per ciascun pin di uscita per controllare il punto esatto all'interno del ciclo di prova per il campionamento della tensione di uscita.
Test aperto / breve
Il test di apertura / cortocircuito (chiamato anche test di continuità o di contatto) verifica che, durante un test del dispositivo, venga effettuato un contatto elettrico a tutti i pin di segnale sul DUT e che nessun pin di segnale sia in cortocircuito verso un altro pin di segnale o alimentazione / terra.
Test delle funzioni di programmazione
Per esaminare la funzione di lettura, cancellazione e programmazione, nonché il controllo del vuoto per i chip tra cui memoria digitale, microcontrollori, MCU e così via
Prova a raggi X e ROHS
X-RAY può confermare se il wafer e il wire bond e il die bond sono buoni o no; il test ROHS si basa sulla protezione ambientale del perno del prodotto e del contenuto di piombo del rivestimento di saldatura dall'apparecchiatura fotovoltaica
Analisi chimica
Il prodotto verificato è originale per analisi chimica

Test Lab Scenes